HAST加速壽命試驗箱
HAST高加速老化試驗箱：英文名Highly Accelerated Stress Test Chamber 用于模擬芯片高溫高濕高壓的環(huán)境中，在一定時間內(nèi)進行加速老化測試，藉以在最短時間內(nèi)檢驗芯片的可靠性和壽命，從而提高產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性。
» 自動箱門設(shè)計，按鈕控制箱門開合，自帶壓力保護。
» 內(nèi)置自研PID控制算法，確保溫度、濕度以及壓力值準確度。
» 兼容不飽和高壓蒸汽的恒定濕熱（HAST）和高壓蒸煮（PCT）試驗。
榮譽資質(zhì)/CERTIFICATES
關(guān)于我們/ ABOUT US
寧波艾德生儀器有限公司是由一批行業(yè)精英及技術(shù)團隊創(chuàng)立的一家致力于專業(yè)設(shè)計開發(fā)、生產(chǎn)制造模擬自然環(huán)境（高溫、低溫、濕熱、光照）試驗儀器設(shè)備的股份制國家級高新技術(shù)企業(yè)。
公司成立于
專利軟著證書
合作客戶
合作案例/COLLABORATION CASES
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